隨著脈沖功率技術(shù)的應(yīng)用，對(duì)其核心器件——高電壓高儲(chǔ)能密度電容器(簡(jiǎn)稱高壓儲(chǔ)能電容器)的可靠性也提出了更高的要求。然而，在此系統(tǒng)的可靠性檢測(cè)方面主要存在兩個(gè)問題：一是當(dāng)前的產(chǎn)品驗(yàn)收手段不能有效的檢測(cè)出產(chǎn)品的某些內(nèi)部缺陷;二是目前缺乏有效的方法評(píng)估服役期間電容器的絕緣老化狀況。對(duì)電容器進(jìn)行局部放電檢測(cè)無(wú)疑是判斷產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段和進(jìn)行絕緣預(yù)防性試驗(yàn)的重要項(xiàng)目之一。但是，如何將直流局部放電檢測(cè)技術(shù)用于大容量(μF 級(jí))高壓儲(chǔ)能電容器的絕緣評(píng)估，國(guó)內(nèi)外的理論探討和實(shí)驗(yàn)研究都落后于實(shí)際需要。

  在國(guó)外，S. A. Boggs 教授和 R. G. Bommakanti教授提出一種針對(duì)大容量電容器局部放電測(cè)試的最優(yōu)化電檢測(cè)方法。當(dāng)各種因素都得到很好控制時(shí)，該測(cè)試系統(tǒng)的靈敏度不受電容器的內(nèi)部電感影響， 可達(dá)到 1000 C pC(C 的單位為 F)。目前國(guó)內(nèi)關(guān)于直流局部放電的研究鮮有報(bào)道。于欽學(xué)等人對(duì)換流變壓器中的油紙絕緣試樣進(jìn)行了直流局部放電性能研究，得出了放電重復(fù)率隨溫度與外加電壓的變化關(guān)系。

  高壓直流下局部放電檢測(cè)技術(shù)的關(guān)鍵在于如何提高信噪比。西安交通大學(xué)劉剛和屠德民提出了在干擾環(huán)境下測(cè)量局部放電信號(hào)的選頻平衡法，其最小可測(cè)放電量與試樣的電容量成正比，該方法能較好抑制噪聲，而且不要求樣品和用于平衡的元件容量相同。西南交通大學(xué)的張血琴、吳廣寧等人近年開展了高壓直流下局部放電檢測(cè)技術(shù)的研究，采用傳統(tǒng)的脈沖電流法與數(shù)字濾波技術(shù)相結(jié)合的方法，對(duì)紙膜復(fù)合的高壓儲(chǔ)能電容器進(jìn)行局部放電檢測(cè)。試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)測(cè)量中的干擾源主要包括電源干擾、窄帶干擾和白噪聲，通過 FFT 濾波和窄帶濾波法以及小波分析技術(shù)能對(duì)抑制這些干擾取得比較滿意的效果。

  在工程實(shí)踐中，盡管采用了很多提高測(cè)試系統(tǒng)信噪比的方法，其靈敏度仍然取決于外界干擾信號(hào)的大小。比如對(duì)于容量為 1μF 的電容器，根據(jù)理論計(jì)算，測(cè)試電路的靈敏度最佳可以達(dá)到 1pC;但是試驗(yàn)表明，用電測(cè)法卻很難達(dá)到 20pC。建立高靈敏度、高信噪比的局部放電檢測(cè)系統(tǒng)仍是高壓直流條件下局部放電檢測(cè)技術(shù)的關(guān)鍵問題。

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