電力設備專用測試儀器通用技術條件，超低頻高壓發(fā)生器技術要求試驗方法，安全絕緣性能試驗。

  1、絕緣電阻，用500V兆歐表測量輸入電源接線柱與超低頻高壓發(fā)生器的任何可觸及的金屬部件之間的絕緣電阻，應滿足規(guī)程的要求。

  2、耐壓試驗，輸入電源接線柱與超低頻高壓發(fā)生器的任何可觸及的金屬部件之間施加工頻電壓2.0kV，耐受lmin，應無明顯放電現(xiàn)象。

  3、倍額定輸出電壓試驗，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器)，零起升壓，使輸出電壓逐步上升至1.1倍額定值，保持10min。超低頻高壓發(fā)生器高壓各部分應無明顯放電，過電壓、過電流保護裝置不應動作。

  4、輸出電壓和波形檢驗

  1)電壓峰值不穩(wěn)定度試驗，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接 50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.0%的電壓測量裝置，在60min 內(nèi)測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至1.0 倍額定值時，分10 次測量輸出電壓峰值。通過計算，輸出電壓峰值不穩(wěn)定度應滿足5.4a)的要求。

  2) 電壓頻率穩(wěn)定度試驗，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.0%的電壓測量裝置，在60min 內(nèi)測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至1.0 倍額定值時，分10 次測量輸出電壓頻率。通過計算，輸出電壓頻率不穩(wěn)定度應滿足規(guī)程的要求。

  3)正弦電壓的波形畸變率試驗，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.5%的電壓測量裝置，測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出正弦電壓的波形畸變率應滿足規(guī)程的要求。

  4 )余弦方波電壓的極性轉換時間試驗，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接電容量為50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.5%的電壓測量裝置，測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出余弦方波電壓的極性轉換時間應滿足規(guī)程的要求。

  5) 正/負半周周期對稱性試驗，超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于 1.0%的電壓測量裝置，測量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8 和 1.0 倍額定值時的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出電壓的正/負半周周期的絕對誤差應滿足規(guī)程的要求。